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測試設計
Design For Test
大型中高端工業(yè)芯片需要高效全面的測試來保證高質量的芯片產(chǎn)品,特別是高端的車規(guī)芯片更是需要零瑕疵的電子元器件,相同的要求同樣應用在其它生命攸關的產(chǎn)品中。為達到這樣高端的要求,測試設計被DFT工程師引入到芯片設計中,從而可以產(chǎn)生相應的測試向量來高效地測試芯片。
地址:深圳市南山區(qū)沙河西路1801號國實大廈15樓
電話:+86-0755-86328998
郵箱:sales@gwxeda.com
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